賽譜司分析儀分析鋼中硅含量以防止硫化腐蝕失效 發(fā)布日期：2022-02-11 14:52:23 文章來(lái)源：萊雷科技
煉油行業(yè)的管道和設(shè)備的硫化腐蝕始終是泄漏以及其他各種問(wèn)題產(chǎn)生的根源，可能會(huì)導(dǎo)致提前更換、計(jì)劃外停機(jī)及財(cái)產(chǎn)損失和人員傷害的各種潛在事故。硅含量較低（<0.10%）的碳鋼在暴露于無(wú)氫硫化腐蝕環(huán)境下會(huì)加快腐蝕。根據(jù)美國(guó)石油協(xié)會(huì) (API) 推薦規(guī)范 939-C（《煉油廠中避免硫化作用腐蝕失效用指南》）的資料顯示，三分之一的高溫硫化腐蝕失效均由硅含量較低而導(dǎo)致。API RP 939-C 是 API RP 578 PMI大計(jì)劃的一部分，旨在驗(yàn)證合金在所有硫化表面的妥善安置（主動(dòng)和被動(dòng)）。發(fā)生無(wú)氫硫化的設(shè)備有原油/真空裝置、流體催化裂解裝置、煉焦設(shè)備和減粘裂化裝置。加氫處理和加氫裂化裝置會(huì)在進(jìn)料和蒸餾階段發(fā)生無(wú)氫硫化腐蝕。為防止此類事故的發(fā)生，使用便攜式 X 射線熒光 (XRF) 分析儀來(lái)分析管道和設(shè)備中的硅含量無(wú)疑是一種理想選擇。 全新賽譜司手持分析儀x550可在現(xiàn)場(chǎng)快速、正確、精準(zhǔn)地分析硅及其他元素。
x-550 XRF 分析儀
新型x550是又小又輕的高性能 X 射線熒光 (XRF) 金屬分析儀。賽譜司x550體積小巧、質(zhì)量輕便，可減少操作者疲勞并可接觸更多的測(cè)試點(diǎn)。緊湊型外形尺寸和新款高效 X 射線管提供了優(yōu)秀的性能和輕元素靈敏度，可適應(yīng)嚴(yán)苛的應(yīng)用，如低含量硅檢測(cè)。賽譜司x550可在嚴(yán)苛的煉廠環(huán)境下提供快速、準(zhǔn)確的元素分析。賽譜司x550在煉油行業(yè)中具有以下主要優(yōu)勢(shì)：
1.優(yōu)秀的化學(xué)和金屬含量識(shí)別精度，提供高置信度結(jié)果
2.出色的輕元素（鎂、鋁、硅、磷、硫）檢測(cè)，無(wú)需真空/充氦氣
3.小巧輕便，可提高生產(chǎn)率，實(shí)現(xiàn)狹窄空間測(cè)試，減輕操作者疲勞
4.靈活的用戶界面，方便自定義工作流程解決方案并根據(jù)低含量硅測(cè)量等特定應(yīng)用輕松優(yōu)化
5.集成攝像頭和小點(diǎn)分析，便于精確樣品定位和圖像捕獲
6.防水、防塵，外殼堅(jiān)固耐用，適應(yīng)惡劣環(huán)境
方法
對(duì)于經(jīng)認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)品和樣品，在確保其表面潔凈且無(wú)含有硅或其他元素的污染物后，對(duì)其進(jìn)行分析。數(shù)據(jù)質(zhì)量目標(biāo)指明了樣品制備要求和所用最短分析時(shí)間。
易發(fā)生硫化腐蝕的典型金屬合金是碳鋼和低合金鋼。這些合金在暴露于空氣時(shí)會(huì)發(fā)生氧化。當(dāng)進(jìn)行XRF分析時(shí)，該氧化層會(huì)影響讀數(shù)精度。隨著金屬中鉻含量逐漸降低，氧化現(xiàn)象會(huì)逐漸惡化。因此，為確保讀數(shù)精確，清理被腐蝕的表面非常重要。除氧化外，表面可能附著油漆、油或油脂。油漆中的鈦、鋅或鎘等金屬元素往往會(huì)影響分析儀的讀數(shù)。油脂中含有鉬及其他添加劑。
為獲得準(zhǔn)確的硅元素讀數(shù)，須清理待分析區(qū)域表面的所有污染物。獲得氧化表面的最快途徑就是使用配備適當(dāng)研磨介質(zhì)（如ZrAlO研磨盤） 的直角刻磨機(jī)。徹底完成表面處理后，可使用主 濾光片（5 秒）和輕濾光片（15～55 秒）對(duì)低含量硅樣品進(jìn)行分析（20～60 秒）。
