?RoHS分析儀的選購標(biāo)準(zhǔn)與注意事項(xiàng) 發(fā)布日期：2021-08-06 15:47:28 文章來源：萊雷科技
RoHS指令對(duì)歐盟出口企業(yè)的環(huán)境保護(hù)提出了更高的要求。因此，向歐盟出口產(chǎn)品的企業(yè)應(yīng)盡快采取行動(dòng)，在掌握相應(yīng)檢測(cè)方法的同時(shí)，尋找上述違禁物質(zhì)的替代品。如何選擇RoHS分析儀？作為一家專業(yè)的ROHS分析儀制造商，我們可以考慮以下幾個(gè)方面
1.rohs分析儀儀器品牌：
首先，我們應(yīng)該調(diào)查公司的實(shí)力。像購買其他產(chǎn)品一樣，要購買XRF，我們需要知道該品牌是否出現(xiàn)在RoHS指令中。我們都知道儀器技術(shù)依賴于積累和沉淀。如果該公司沒有長(zhǎng)期的技術(shù)積累，它只是為RoHS分析儀而生。如果沒有市場(chǎng)的認(rèn)可，它很可能會(huì)突然蒸發(fā)。用戶將做什么？誰將負(fù)責(zé)rohs分析儀售后服務(wù)？
除了測(cè)試ROHS指令測(cè)量的元素外，儀器的一些XRF還具有其他功能。XRF還具有厚度測(cè)量功能。和其他組件的分析。
rohs分析儀儀器的性能是購買儀器的一個(gè)非常重要的指標(biāo)。rohs分析儀儀器價(jià)格差異很大的主要原因是儀器的心臟和探測(cè)器
rohs分析儀探測(cè)器的分辨率決定了儀器的價(jià)格和主要性能
低到高分辨率的探測(cè)器有NaI晶體閃爍計(jì)數(shù)器、充氣比例計(jì)數(shù)器（he、NE、AR、Kr、Xe等）、HgI2晶體探測(cè)器、半導(dǎo)體冷卻SiPIN探測(cè)器、高純硅晶體探測(cè)器、高純鍺晶體探測(cè)器、電冷卻或液氮冷卻Si（LI）鋰漂移。硅晶體探測(cè)器、鍺（鋰）鋰漂移鍺探測(cè)器等
目前常用的硅（鋰）漂移硅晶體探測(cè)器有電冷卻或液氮冷卻、硅PIN探測(cè)器和高純硅晶體探測(cè)器。檢測(cè)器的性能主要體現(xiàn)在熒光檢測(cè)的檢出限、分辨率和能量范圍。因此，如果您希望儀器的檢測(cè)限良好，您必須了解。低分辨率檢測(cè)器的檢測(cè)元素效果差，難以檢測(cè)被測(cè)物質(zhì)中的微量元素。分辨率一般為700-1100ev。通常，它可以在無干擾的情況下測(cè)量高含量的元素。
中程探測(cè)器可以檢測(cè)到大量的元素，但很難檢測(cè)到微量元素。分辨率通常為200-300電子伏。通常，用于檢測(cè)的對(duì)象元素不是相鄰元素，并且元素彼此相鄰（至少1個(gè)間隔）-2個(gè)或更多元素），并且每個(gè)元素的影響非常小。
高端探測(cè)器可同時(shí)檢測(cè)不同濃度（一般從Na到U）的所有元素，分辨率一般為150-180ev?？梢酝瑫r(shí)測(cè)定周期表na-u范圍內(nèi)的任何元素。痕量檢測(cè)可以達(dá)到幾ppm左右。
前兩個(gè)探測(cè)器不完全符合rohs分析儀標(biāo)準(zhǔn)。許多生產(chǎn)rohs分析儀的公司聲稱，他們的儀器可以檢測(cè)Na和u元素，但他們可以在測(cè)試過程中分離Na和u元素。我們知道相鄰元素會(huì)相互干擾。如果干擾，你說你所做的數(shù)據(jù)是準(zhǔn)確的嗎？SiPIN探測(cè)器和高純硅晶體探測(cè)器的分辨率一般為200ev-270ev，電釬焊或液氮冷卻的Si（LI）鋰漂移硅晶體探測(cè)器的分辨率為140ev-165ev。它消耗液氮，但其制冷過程復(fù)雜且昂貴。依靠功耗冷卻，分辨率略低于液氮，但也完全滿足RoHS檢測(cè)要求。液氮制冷消耗液氮，使用不便，但液氮溫度很低。操作人員必須注意安全，但其分辨率略高于電制冷。在這里，我們還可以看到探測(cè)器的面積。探測(cè)器面積越大，效率越高。測(cè)試時(shí)間較短。市場(chǎng)上的探測(cè)器面積范圍為5至15mm2。許多rohs分析儀供應(yīng)商聲稱，他們的儀器測(cè)試時(shí)間為3分鐘，這是3分鐘的可靠數(shù)據(jù)，或減少測(cè)試條件的實(shí)時(shí)時(shí)間，特別是減少濾波器轉(zhuǎn)換次數(shù)和縮短測(cè)試時(shí)間。事實(shí)上，許多rohs分析儀可能需要3分鐘，但數(shù)據(jù)非常差。
